1、高溫環(huán)境：高溫環(huán)境會(huì)產(chǎn)生熱效應(yīng)，使半導(dǎo)體芯片部件發(fā)生軟化、膨脹蒸發(fā)、氣化、龜裂、溶融及老化等現(xiàn)象，而對(duì)應(yīng)的汽車(chē)將會(huì)出現(xiàn)機(jī)械故障、潤(rùn)滑密封失效、電路系統(tǒng)絕緣不良、機(jī)械的應(yīng)力增加及強(qiáng)度減弱等故障。通常使用的設(shè)備有高低溫試驗(yàn)箱、高溫老化箱，精密烘箱、高溫試驗(yàn)箱等；
2、低溫環(huán)境：低溫環(huán)境會(huì)使半導(dǎo)體芯片發(fā)生物理收縮、油液凝固、機(jī)械強(qiáng)度降低、材料脆化、失去彈性及結(jié)冰等現(xiàn)象，而對(duì)應(yīng)的半導(dǎo)體芯片車(chē)將會(huì)出現(xiàn)龜裂機(jī)械故障、磨損增大、密封失效及電路系統(tǒng)絕緣不良等故障。用處使用的設(shè)備有：高低溫試驗(yàn)箱、低溫試驗(yàn)箱；
3、濕熱條件：環(huán)境濕度大會(huì)使半導(dǎo)體芯片表面產(chǎn)材料變質(zhì)、電強(qiáng)度和絕緣電阻降低及電氣性能下降。通常使用的設(shè)備有：恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、濕熱循環(huán)檢定箱。 
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